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日本AND愛安德電子天平校準的區(qū)別

更新時間：2024-08-16   點擊次數(shù)：503次

日本電子天平校準的方式分析

所有品牌產(chǎn)品的電子電子中，電子天平的校準方式分為內(nèi)校和外校


內(nèi)校是指利用電子天平內(nèi)部安裝的校準砝碼并遵循內(nèi)部標準程序進行校準。校準時只需按一下校準鍵，電機會驅動帶內(nèi)置砝碼的升降裝置，對天平進行加載，從而實施并完成校準。

外校是指利用外部砝碼對天平本身誤差進行修正的方式進行校準。此方法需事先檢查外部砝碼是否通過檢定，并在檢定有效期內(nèi)，主要是為了確保砝碼滿足相關標準對實物量具的控制要求。開始校準時先按下校準鍵，再通過手動把*量程的砝碼放到電子天平秤盤上，來完成校準過程。

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外部砝碼可能會受到灰塵沾染、日常磨損和酸堿腐蝕等自然因素的不良影響，所以為了保證計量工作的準確性，外部砝碼也需要定期進行校準，常常需有相關資質(zhì)的計量檢測機構做測試；再加上人為拿錯砝碼的可能性，因此外校型天平對人為操作的要求會更加苛刻。而內(nèi)置砝碼的天平一般不會出現(xiàn)這些情況，并可以通過修改天平的校正程序參數(shù)來修正偏差。

綜上所述，內(nèi)校可以有效避免不確定因素所造成的誤差，相比外校是一種更加節(jié)約成本的方法。